Knihy od autora Manoj Sachdev

Zobrazeno 1 – 8 z 8 výsledků

1. 

   ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies

   Oleg Semenov, Hossein Sarbishaei, Manoj Sachdev | Springer-Verlag New York Inc., 2008

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 14-18 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   5985 Kč

   Koupit
2. 

   CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

   Andrei Pavlov, Manoj Sachdev | Springer-Verlag New York Inc., 2008

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 14-18 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   5391 Kč

   Koupit
3. 

   Thermal and Power Management of Integrated Circuits

   Arman Vassighi, Manoj Sachdev | Springer, Berlin, 2010

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 14-18 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   3313 Kč

   Koupit
4. 

   Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

   Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez | Springer-Verlag New York Inc., 2010

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 14-18 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   6578 Kč

   Koupit
5. 

   ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies

   Oleg Semenov, Hossein Sarbishaei, Manoj Sachdev | Springer, 2010

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 14-18 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   5985 Kč

   Koupit
6. 

   Thermal and Power Management of Integrated Circuits

   Arman Vassighi, Manoj Sachdev | Springer-Verlag New York Inc., 2006

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 14-18 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   3313 Kč

   Koupit
7. 

   CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

   Andrei Pavlov, Manoj Sachdev | Springer, 2010

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 14-18 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   5391 Kč

   Koupit
8. 

   Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

   Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez | Springer-Verlag New York Inc., 2007

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 14-18 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   6578 Kč

   Koupit

Výběr z milionů titulů vám jen tak někdo nenabídne. Zjistěte více